测厚仪
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  • thermo热电MicroXR Microbeam XRF Platform

    MicronX 利用X-射线荧光的非接触式的无损测试技术完美地用于各种镀层和涂层厚度测量, 仪器具有细束的X-射线可准确对准被测量的各种器件,包括非常细小的区域。如:微电子学各种线路板、光通讯器件镀层和数据贮存工业中的金属薄膜测量。MicronX 是用聚焦束的X-射线,可以同时测量多至6层...
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