表面物形测试仪
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  • Anton Paar 安东帕Physica聚合物流变仪系统MCR301

    测试模式: 1.应力控制或应变控制下的旋转测试 2.应力控制或应变控制下的振荡测试 3.蠕变/恢复测试 4.应力松弛测试、 5.法向应力测量 6.多阶跃进模式的振荡和旋转测试 ……等等高级旋转流变仪的所有标准测试模式,以及用户自定义的测试模式。 主要特点: * 强大的组合流变测...
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  • BECKMANCOULTER贝克曼库尔特SA 3100比表面积及孔隙分析仪

    BECKMANCOULTER贝克曼库尔特SA 3100比表面积及孔隙分析仪    SA 3100比表面积及孔隙分析仪 功能            :比表面积及孔径分析 分析范围      : 比表面积0.01-2000m2/g 、孔径30-2000埃 应用原理技术:气体物理吸附 适用范围      :催化剂、活性碳、陶瓷材料、稀...
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  • KSV attension Theta Lite TL100光学接触角仪

    计算机控制,结果精确. 独立的测量窗口显示接触角测量值 显示器实时显示液滴在固体表面状态的真实图像显示器 技术参数: 接触角测量范围:  0-180  精确度:          ±0.1degrees      最大样品尺寸:    无限制×150×50mm(长×宽×高)
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  • KSV 芬兰 minimicro LB膜分析仪

    携带方便,便于安装使用 ·两个标准槽 ·可与许多薄膜分析仪器兼容 ·节省样品原料 ·最佳尺寸/性能比 ·计算机控制LB膜沉积 ·高品质的原材料 技术参数: 膜天平:         动态范围 0-250mN/m 浸渍器:         速度 0.1-75mm/min 最大基片尺寸   25×30mm 压缩速度:      0.02-200mm/min
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  • KSV 芬兰 NIMA Large系列LB膜分析仪

    KSV-2000 I型结构包括: 主机 膜天平 能够均匀压缩的水槽   KSV2000II型结构包括: 主机 膜天平 膜沉积系统 带有浸渍井的能够均匀压缩的水槽  KSV-2000 III型结构包括: 主机 交替镀膜系统 带有浸渍井的能够均匀压缩的水槽 KSV-2000 I型: 膜天平测量范围:   0 – 25...
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  • KSV 芬兰 NIMA Medium小型LB膜分析仪

    高性价比 ·携带方便,安装使用简单 ·亚相体积小 ·便于特殊应用 ·可作为理想的保留槽系统 ·结构简单坚固—教学应用 ·可安装显微镜,Brewster角显微镜及椭偏仪等仪器 ·环境及生物应用 ·对称压缩 技术参数: 膜沉积系统 控制及操作:  软件控制,自动膜沉积 沉积速度:    标准范围0.1-75mm...
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  • KSV 芬兰5000 型LB膜分析仪

    KSV 5000 型LB膜分析仪,其系统复杂精致、应用操作灵活。它扩展了传统的膜天平,使其成为一种高性能的LB膜分析仪器或者一整套交替多层LB膜分析系统。 KSV 5000系统是由各模块和辅助装置组成。主框架是该系统的核心,按照要求的配置,各模块和辅助装置围绕这个框架进行组合。KSV 5000有...
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  • KSV芬兰NIMA KN ISR1界面流变仪

    预测乳液、泡沫和泡沫稳定性 • 测定薄膜结构 • 测定相转变 • 实时监测表面凝胶化和网络生长 • 连续监测蛋白质吸附和变性 • 测定薄膜中缠结和氢键 技术参数: 动态摸量测量的下限: 0.001 mN/m 2. 频率范围: 0.01 to 10 rad/s 3. 应变范围: 3×10-4 to 1
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